掃描串列故障診斷的新手法

由徐瑞榮著作·2005—...邏輯閘也加重了晶片測試的困難度,因此可測試性設計(DFT)...黃錫瑜·Hung-MingChenPhD·Shi-YuHuangPhD·電機學院電子與光電學程.關鍵字:可 ...

掃描串列故障診斷的新手法

由 徐瑞榮 著作 · 2005 — ... 邏輯閘也加重了晶片測試的困難度,因此可測試性設計(DFT) ... 黃錫瑜 · Hung-Ming Chen PhD · Shi-Yu Huang PhD · 電機學院電子與光電學程. 關鍵字: 可 ...

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